GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法
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时间:2024-05-17 14:55:50
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基本信息
| 标准名称： | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法 |
| 英文名称： | Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 光电子器件 >> 光电子器件组合 |
| ICS分类： | 电子学 >> 光电子学、激光设备 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： | 2003-01-01 |
| 实施日期： | 2004-08-01 |
| 首发日期： | 2003-11-24 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 提出单位： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 华禹光谷股份有限公司半导体厂 |
| 起草人： | 陈兰、那仁、王守华 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-08-01 |
| 页数： | 16开， 页数：27， 字数：48千字 |
| 书号： | 155066.1-20664 |
适用范围
本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 光电子器件 光电子器件组合 电子学 光电子学 激光设备
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